UV762雙光束紫外可見分光光度計 紫外可見分光光度計 光度計

 UV762雙光束紫外可見分光光度計 紫外可見分光光度計 光度計產(chǎn)品簡介：

1.關(guān)鍵元件采用進口元件，新的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，使儀器的主機具有良好的光學(xué)性能和測光性能，雜散光低，測光精度和穩(wěn)定可靠性高。

2.雙光束測光系統(tǒng)，配合先進的電路測控系統(tǒng)，使儀器具有較高的可靠性和低的噪聲。

3.氘燈和鎢燈的安裝，光源自動切換及自動尋找正確位置的設(shè)計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全．

4.采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面．

5.軟件設(shè)計和編制，使儀器有較強光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動掃描測量光譜,  多波長( 1-3λ) 測定、動力學(xué)測定、１－３次曲線擬合、１－４階導(dǎo)數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。

6.基于Windows 平臺的軟件，界面友好，功能強，方便您的存儲輸出，方便辦公，節(jié)省費用。

UV762雙光速紫外可見分光光度計 紫外可見分光光度計 光度計性能指標：

• 波長范圍：190nm～1100nm
• 光譜帶寬：2nm
• 波長準確度：≤±0.3nm(開機自動校正)
• 波長重復(fù)性：≤0.2nm
• 透射比準確度：±0.3%(T)
• 透射比重復(fù)性：0.2%(T)
• 透射比測量范圍：0～200%T
• 吸光度測量范圍：-0.301～3.000A
• 雜光：≤0.15%(在220nm處，以NAI測定)
• 漂移：≤0.004A/H （500nm處）
• 噪聲：100%線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T
• 掃描速度：快  中  慢